Micron
• 職責:手動與自動缺陷分類、偵測配方效能評估優化、缺陷偵測能力改善 • 領域:RDA 缺陷分類工程 / 晶圓製造 • 技能:缺陷分類、RDA、配方優化、自動化分類、SEM 影像分析 • 亮點:Micron ID1 RDA 缺陷分類工程師,支援半導體晶圓線內缺陷的精確分類與偵測
發布日期:2026-05-03