Micron
• 職責:開發分析實作微影/薄膜量測技術(OCD/CD-SEM/疊對)、NPI 量測移轉、跨廠匹配績效 • 領域:量測應用工程 / 微影/薄膜 • 技能:量測技術(OCD/CD-SEM/疊對)、NPI 轉移、製程配方驗證、跨廠匹配 • 亮點:Micron OMT 量測應用工程師,為微影/薄膜製程開發先進量測方案並確保跨廠一致性
發布日期:Yesterday