Micron
• 職責:操作量測工具(CD-SEM、overlay、薄膜、缺陷檢查),監控製程參數並支援 MRDA 量測 • 領域:MTB PWF 廠區量測與檢驗工程(MRDA) • 技能:CD-SEM 操作、overlay 量測、薄膜量測、缺陷分析 • 亮點:接觸先進 HBM 製程量測技術,建立半導體量測技術核心能力
發布日期:2026-04-21